AFM sustav za mikroskopiju atomskih sila (Bruker)

Atomic force microscopy (Bruker)

AFM

AFM

Princip rada Mikroskop atomskih sila (AFM) pretražuje površinu uzorka mjereći interakciju između oštrog šiljka pričvršćenog za savitljivu polugu i površine uzorka. AFM uređaj se sastoji od tri osnovna dijela: piezoelektrično pretraživalo, pretražna proba i sustav za detekciju pomaka poluge. Proba se sastoji od poluge sa šiljkom (SiN3, SiO2, C-nanotube). Karakteristike: -oslikavanje površine uzoraka u 3D sa subnanometarskom rezolucijom (vertikalno 0,1 nm, lateralno >1nm) -nedestruktivna metoda -uzorak u nativnoj formi na zraku ili u tekućini -mjerenje intra- i inter- molekulskih sila, viskoelastičnih i drugih mehanička svojstva -pogodan za ispitivanje makromolekula, polimera, vezikula, tekućih kristala, koloida, stanica i staničnih organela, abiotskih čestica u prirodnim uvjetima, razni kruti uzzorci

Basic principle The atomic force microscope (AFM) scans the surface of a sample by measuring the interaction between the sharp tip attached to the flexible cantilever and the sample. AFM device consists of three main parts: piezoelectric scanner, scanning probe and system for detecting movement of the cantilever. The probe consists of a cantilever with a tip (SiN3, SiO2, carbon nanotube). Characteristics: -surface imaging in 3D at the subnanometre resolution (0.1 nm vertical, >1 nm lateral) -non-destructive method -the sample is in the native form in air or in liquid -measurement of intra- and inter-molecular forces, viscoelastic and other mechanical properties -suitable for macromolecules, polymers, vesicles, liquid crystals, colloids, cells and cell organelles, abiotic particles in natural conditions, different solid samples