izvor podataka: Šestar

FE skenirajući elektronski mikroskop

FE Scanning Electron Microscope


FE-SEM

FE-SEM


Pretražni/skenirajući mikroskop s FE (emisija kroz polje) izvorom elektrona omogućava dobivanje visokorezolucijske slike objekta koji se istražuje. Opremljen je i EDS detektorom za elementnu analizu, te je dostupan i naparivač uzoraka za prikladnu pripremu nevodljivih uzoraka. Ima široko područje primjene u tehničkim i prirodnim znanostima.

The scanning electron microscope with FE (field emission) electron source allows obtaining a high-resolution image of the object being investigated. It is also equipped with an EDS Detector for elemental analysis, and a sputter coater is also available for the appropriate preparation of non-conductive samples. It has a wide range of applications in technical and natural sciences.


nije evidentirano


nije evidentirano


nije evidentirano


nije evidentirano


nije evidentirano

Mira//LMU

TESCAN Brno, s.r.o.

Tekstilno-tehnološki fakultet

kapitalna (>1.000.000 kn)

samostalan

nije evidentirano

mikroskop

elementna analiza, mjerenje veličine čestica, površinska analiza

2009

7951

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

potpuno funkcionalan

Ne

Ne

nije evidentirano

Biologija, Fizika, Drvna tehnologija, Šumarstvo, Prehrambena tehnologija, Biotehnologija, Poljoprivreda (agronomija), Metalurgija, Kemijsko inženjerstvo, Građevinarstvo, Grafička tehnologija, Geodezija, Elektrotehnika, Temeljne tehničke znanosti, Brodogradnja, Kemija, Geofizika

snimanje velikim povećanjem




Popis usluga

Nema evidentiranih usluga za ovu opremu

Dokumenti

Nema učitanih dokumenata

Slike

Naziv: SEM Mira//LMU

Tekstilno-tehnološki fakultet

nije evidentirano

nije evidentirano

Zagreb

Savska 16/9

nije evidentirano