FE skenirajući elektronski mikroskop
FE Scanning Electron Microscope
FE-SEM
FE-SEM
Pretražni/skenirajući mikroskop s FE (emisija kroz polje) izvorom elektrona omogućava dobivanje visokorezolucijske slike objekta koji se istražuje. Opremljen je i EDS detektorom za elementnu analizu, te je dostupan i naparivač uzoraka za prikladnu pripremu nevodljivih uzoraka. Ima široko područje primjene u tehničkim i prirodnim znanostima.
The scanning electron microscope with FE (field emission) electron source allows obtaining a high-resolution image of the object being investigated. It is also equipped with an EDS Detector for elemental analysis, and a sputter coater is also available for the appropriate preparation of non-conductive samples. It has a wide range of applications in technical and natural sciences.
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Mira//LMU
TESCAN Brno, s.r.o.
Tekstilno-tehnološki fakultet
kapitalna (>1.000.000 kn)
samostalan
nije evidentirano
mikroskop
elementna analiza, mjerenje veličine čestica, površinska analiza
2009
7951
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
potpuno funkcionalan
Ne
Ne
nije evidentirano
Biologija, Fizika, Drvna tehnologija, Šumarstvo, Prehrambena tehnologija, Biotehnologija, Poljoprivreda (agronomija), Metalurgija, Kemijsko inženjerstvo, Građevinarstvo, Grafička tehnologija, Geodezija, Elektrotehnika, Temeljne tehničke znanosti, Brodogradnja, Kemija, Geofizika
snimanje velikim povećanjem
| Financijer | Tip financijera |
|---|---|
|
Europska komisija |
Inozemni - zaklade, agencije i druga tijela/ustanove koja financiraju istraživanja |
Popis usluga
Nema evidentiranih usluga za ovu opremu
Tekstilno-tehnološki fakultet
nije evidentirano
nije evidentirano
Zagreb
Savska 16/9
nije evidentirano